檢測宇航級芯片抗輻射效能
中國散裂中子源2018年完成國家驗收、投入運行以來，用戶迅速增加，目前註冊用戶已超過6000人，機時供不應求。截至目前，已完成1500餘項（含港澳台地區及國外100餘項）用戶實驗課題，涵蓋了能源、物理、材料、工程等多個前沿交叉和高科技研發領域，在航空航天關鍵部件應力檢測、鋰離子電池、太陽能電池結構、稀土磁性、新型高溫超導、功能薄膜、高強合金、芯片單粒子效應等重點領域取得了一批科技創新成果。正是由於散裂中子源豐碩的成果產出和強烈的用戶需求，二期工程得以快速立項並啟動建設。
“芯片中子單粒子效應”是什麼？簡單來說，宇宙中存在各種輻射射線，衛星、航天飛機、空間站等人造飛行器的高性能芯片，均可能受太空射線影響而產生“單粒子效應”，引致電子器件性能異常或損毀。所以，抗輻射設計對於宇航級芯片而言必不可少。而在這些領域，散裂中子源都能發揮關鍵作用。 |
